北京大学Jun Li小组觉察，颗粒细胞中的齿状回形式产生受自闭症危险基因Trio效力的调控。闭联论文于2024年6月22日正在线揭晓正在《神经科学传递》杂志上。
咨询职员陈述了自闭症谱系挫折（ASD）高易感性基因Trio的缺失会导致出生后齿状回（DG）发育不良，缺失Trio的小鼠会显露出犹如自闭症的行动。DG形式产生挫折闭键是因为有丝散乱后的颗粒细胞（GC）正在出生后的散布受到骚扰，从而进一步导致神经祖细胞的迁徙挫折。
其余，咨询职员通过空间转录组测序觉察，Trio正在各式兴奋性神经细胞中阐发着差异的感化，越发是调控有丝散乱后颗粒细胞迁徙的感化。总之，这些咨询结果为Trio参加出生后DG形式产生的细胞机制供应了证据。
据理会，ASD是一组神经发育挫折。正在自闭症患者和存正在ASD危险基因效力挫折的小鼠模子中，囊括海马正在内的脑区构造改变被遍及报道，但其潜正在机制尚未统统了解。
